檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "技術".ckeyword (精準) and ckeyword.raw="去嵌入技術"
個人化服務 :
排序:
每頁筆數:
已勾選0筆資料
1
目前在特性元件的量測中有兩種方式分別是:測試夾具法(Test Fixture Measurement)、晶圓級量測法(On-Wafer Measurement),使用測試夾具法時,會產生不屬於待測物…